Thermal Reliability of Power Semiconductor Device in the Renewable Energy System
Sorozatcím: CPSS Power Electronics Series;
-
20% KEDVEZMÉNY?
- A kedvezmény csak az 'Értesítés a kedvenc témákról' hírlevelünk címzettjeinek rendeléseire érvényes.
- Kiadói listaár EUR 160.49
-
66 563 Ft (63 393 Ft + 5% áfa)
Az ár azért becsült, mert a rendelés pillanatában nem lehet pontosan tudni, hogy a beérkezéskor milyen lesz a forint árfolyama az adott termék eredeti devizájához képest. Ha a forint romlana, kissé többet, ha javulna, kissé kevesebbet kell majd fizetnie.
- Kedvezmény(ek) 20% (cc. 13 313 Ft off)
- Kedvezményes ár 53 250 Ft (50 714 Ft + 5% áfa)
Iratkozzon fel most és részesüljön kedvezőbb árainkból!
Feliratkozom
66 563 Ft
Beszerezhetőség
Megrendelésre a kiadó utánnyomja a könyvet. Rendelhető, de a szokásosnál kicsit lassabban érkezik meg.
Why don't you give exact delivery time?
A beszerzés időigényét az eddigi tapasztalatokra alapozva adjuk meg. Azért becsült, mert a terméket külföldről hozzuk be, így a kiadó kiszolgálásának pillanatnyi gyorsaságától is függ. A megadottnál gyorsabb és lassabb szállítás is elképzelhető, de mindent megteszünk, hogy Ön a lehető leghamarabb jusson hozzá a termékhez.
A termék adatai:
- Kiadás sorszáma 1st ed. 2022
- Kiadó Springer Nature Singapore
- Megjelenés dátuma 2023. július 9.
- Kötetek száma 1 pieces, Book
- ISBN 9789811931345
- Kötéstípus Puhakötés
- Lásd még 9789811931314
- Terjedelem172 oldal
- Méret 235x155 mm
- Súly 356 g
- Nyelv angol
- Illusztrációk XVI, 172 p. 121 illus., 94 illus. in color. Illustrations, black & white 468
Kategóriák
Hosszú leírás:
This book focuses on the thermal reliability of power semiconductor device by looking at the failure mechanism, thermal parameters monitoring, junction temperature estimation, lifetime evaluation, and thermal management. Theoretical analysis and experimental tests are presented to explain existing reliability improvement techniques. This book is a valuable reference for the students and researchers who pay attention to the thermal reliability design of power semiconductor device.
Több
