• Kapcsolat

  • Hírlevél

  • Rólunk

  • Szállítási lehetőségek

  • Prospero könyvpiaci podcast

  • Hírek

  • Thermal Reliability of Power Semiconductor Device in the Renewable Energy System

    Thermal Reliability of Power Semiconductor Device in the Renewable Energy System by Du, Xiong; Zhang, Jun; Li, Gaoxian;

    Sorozatcím: CPSS Power Electronics Series;

      • 20% KEDVEZMÉNY?

      • A kedvezmény csak az 'Értesítés a kedvenc témákról' hírlevelünk címzettjeinek rendeléseire érvényes.
      • Kiadói listaár EUR 160.49
      • Az ár azért becsült, mert a rendelés pillanatában nem lehet pontosan tudni, hogy a beérkezéskor milyen lesz a forint árfolyama az adott termék eredeti devizájához képest. Ha a forint romlana, kissé többet, ha javulna, kissé kevesebbet kell majd fizetnie.

        66 563 Ft (63 393 Ft + 5% áfa)
      • Kedvezmény(ek) 20% (cc. 13 313 Ft off)
      • Kedvezményes ár 53 250 Ft (50 714 Ft + 5% áfa)

    66 563 Ft

    db

    Beszerezhetőség

    Megrendelésre a kiadó utánnyomja a könyvet. Rendelhető, de a szokásosnál kicsit lassabban érkezik meg.

    Why don't you give exact delivery time?

    A beszerzés időigényét az eddigi tapasztalatokra alapozva adjuk meg. Azért becsült, mert a terméket külföldről hozzuk be, így a kiadó kiszolgálásának pillanatnyi gyorsaságától is függ. A megadottnál gyorsabb és lassabb szállítás is elképzelhető, de mindent megteszünk, hogy Ön a lehető leghamarabb jusson hozzá a termékhez.

    A termék adatai:

    • Kiadás sorszáma 1st ed. 2022
    • Kiadó Springer Nature Singapore
    • Megjelenés dátuma 2022. július 9.
    • Kötetek száma 1 pieces, Book

    • ISBN 9789811931314
    • Kötéstípus Keménykötés
    • Terjedelem172 oldal
    • Méret 235x155 mm
    • Súly 488 g
    • Nyelv angol
    • Illusztrációk XVI, 172 p. 121 illus., 94 illus. in color. Illustrations, black & white
    • 268

    Kategóriák

    Hosszú leírás:

    This book focuses on the thermal reliability of power semiconductor device by looking at the failure mechanism, thermal parameters monitoring, junction temperature estimation, lifetime evaluation, and thermal management. Theoretical analysis and experimental tests are presented to explain existing reliability improvement techniques. This book is a valuable reference for the students and researchers who pay attention to the thermal reliability design of power semiconductor device.

    Több

    Tartalomjegyzék:

    Introduction.- Thermal fatigue failure mechanism of power devices in renewable energy system.- Thermal model and thermal parameters monitoring.- Thermal analysis of power semiconductor device in renewable energy system.- Multi-time scale lifetime evaluation for the device in the renewable application.- Thermal management design and optimization.- Prospect.

    Több
    Mostanában megtekintett