Microscopy of Semiconducting Materials
1999 Proceedings of the Institute of Physics Conference held 22-25 March 1999, University of Oxford, UK
Sorozatcím: Institute of Physics Conference Series; 164;
-
20% KEDVEZMÉNY?
- A kedvezmény csak az 'Értesítés a kedvenc témákról' hírlevelünk címzettjeinek rendeléseire érvényes.
- Kiadói listaár GBP 525.00
-
250 818 Ft (238 875 Ft + 5% áfa)
Az ár azért becsült, mert a rendelés pillanatában nem lehet pontosan tudni, hogy a beérkezéskor milyen lesz a forint árfolyama az adott termék eredeti devizájához képest. Ha a forint romlana, kissé többet, ha javulna, kissé kevesebbet kell majd fizetnie.
- Kedvezmény(ek) 20% (cc. 50 164 Ft off)
- Kedvezményes ár 200 655 Ft (191 100 Ft + 5% áfa)
- A kedvezmény érvényes eddig: 2025. december 31.
Iratkozzon fel most és részesüljön kedvezőbb árainkból!
Feliratkozom
250 818 Ft
Beszerezhetőség
Becsült beszerzési idő: Várható beérkezés: 2026. január vége.
A Prosperónál jelenleg nincsen raktáron.
Why don't you give exact delivery time?
A beszerzés időigényét az eddigi tapasztalatokra alapozva adjuk meg. Azért becsült, mert a terméket külföldről hozzuk be, így a kiadó kiszolgálásának pillanatnyi gyorsaságától is függ. A megadottnál gyorsabb és lassabb szállítás is elképzelhető, de mindent megteszünk, hogy Ön a lehető leghamarabb jusson hozzá a termékhez.
A termék adatai:
- Kiadás sorszáma 1
- Kiadó CRC Press
- Megjelenés dátuma 2000. január 1.
- ISBN 9780750306508
- Kötéstípus Keménykötés
- Terjedelem772 oldal
- Méret 234x156 mm
- Súly 1428 g
- Nyelv angol 0
Kategóriák
Rövid leírás:
Microscopy of Semiconducting Materials provides an overview of advances in semiconductor studies using microscopy. This authoritative reference explores the use of transmission and scanning electron microscopy, ultrafine electron probes, and EELS to investigate semiconducting structures. It also covers specimen preparation using focused ion beam milling and advances in microscopy techniques using different types of scanning probes, such as AFM, STM, and SCM. In addition, the volume discusses a range of materials, from finished devices to partly processed materials and structures, including nanoscale wires and dots.
TöbbHosszú leírás:
With IC technology continuing to advance, the analysis of very small structures remains critically important. Microscopy of Semiconducting Materials provides an overview of advances in semiconductor studies using microscopy. The book explores the use of transmission and scanning electron microscopy, ultrafine electron probes, and EELS to investigate semiconducting structures. It also covers specimen preparation using focused ion beam milling and advances in microscopy techniques using different types of scanning probes, such as AFM, STM, and SCM. In addition, the book discusses a range of materials, from finished devices to partly processed materials and structures, including nanoscale wires and dots.
This volume provides an authoritative reference for all academics and researchers in materials science, electrical and electronic engineering and instrumentation, and condensed matter physics.
Tartalomjegyzék:
High resolution microscopy and microanalysis (10 papers). Dislocations and boundaries (9 papers). Self-organized and quantum domain structures (14 papers) . Epitaxy-growth phenomena (22 papers). Epitaxy-defect formation (16 papers). Epitaxy-wide band-gap nitrides (20 papers). Processed silicon and related materials (24 papers). Metallization, silicides and contacts (9 papers). Device studies and specimen preparation (7 papers). Scanning probe microscopy (6 papers). Advanced scanning electron and optical microscopy (20 papers).
Több
