Microscopy of Semiconducting Materials 2007
Proceedings of the 15th Conference, 2-5 April 2007, Cambridge, UK
Sorozatcím: Springer Proceedings in Physics; 120;
-
20% KEDVEZMÉNY?
- A kedvezmény csak az 'Értesítés a kedvenc témákról' hírlevelünk címzettjeinek rendeléseire érvényes.
- Kiadói listaár EUR 213.99
-
88 752 Ft (84 526 Ft + 5% áfa)
Az ár azért becsült, mert a rendelés pillanatában nem lehet pontosan tudni, hogy a beérkezéskor milyen lesz a forint árfolyama az adott termék eredeti devizájához képest. Ha a forint romlana, kissé többet, ha javulna, kissé kevesebbet kell majd fizetnie.
- Kedvezmény(ek) 20% (cc. 17 750 Ft off)
- Kedvezményes ár 71 002 Ft (67 621 Ft + 5% áfa)
Iratkozzon fel most és részesüljön kedvezőbb árainkból!
Feliratkozom
88 752 Ft
Beszerezhetőség
Becsült beszerzési idő: A Prosperónál jelenleg nincsen raktáron, de a kiadónál igen. Beszerzés kb. 3-5 hét..
A Prosperónál jelenleg nincsen raktáron.
Why don't you give exact delivery time?
A beszerzés időigényét az eddigi tapasztalatokra alapozva adjuk meg. Azért becsült, mert a terméket külföldről hozzuk be, így a kiadó kiszolgálásának pillanatnyi gyorsaságától is függ. A megadottnál gyorsabb és lassabb szállítás is elképzelhető, de mindent megteszünk, hogy Ön a lehető leghamarabb jusson hozzá a termékhez.
A termék adatai:
- Kiadás sorszáma 2008
- Kiadó Springer Netherlands
- Megjelenés dátuma 2008. szeptember 18.
- Kötetek száma 1 pieces, Book
- ISBN 9781402086144
- Kötéstípus Keménykötés
- Terjedelem498 oldal
- Méret 235x155 mm
- Súly 925 g
- Nyelv angol
- Illusztrációk XIV, 498 p. 0
Kategóriák
Hosszú leírás:
This volume contains invited and contributed papers presented at the conference on ‘Microscopy of Semiconducting Materials’ held at the University of Cambridge on 2-5 April 2007. The event was organised under the auspices of the Electron Microscopy and Analysis Group of the Institute of Physics, the Royal Microscopical Society and the Materials Research Society. This international conference was the fifteenth in the series that focuses on the most recent world-wide advances in semiconductor studies carried out by all forms of microscopy and it attracted delegates from more than 20 countries. With the relentless evolution of advanced electronic devices into ever smaller nanoscale structures, the problem relating to the means by which device features can be visualised on this scale becomes more acute. This applies not only to the imaging of the general form of layers that may be present but also to the determination of composition and doping variations that are employed. In view of this scenario, the vital importance of transmission and scanning electron microscopy, together with X-ray and scanning probe approaches can immediately be seen. The conference featured developments in high resolution microscopy and nanoanalysis, including the exploitation of recently introduced aberration-corrected electron microscopes. All associated imaging and analytical techniques were demonstrated in studies including those of self-organised and quantum domain structures. Many analytical techniques based upon scanning probe microscopies were also much in evidence, together with more general applications of X-ray diffraction methods.
TöbbTartalomjegyzék:
Wide Band-Gap Nitrides.- General Heteroepitaxial Layers.- High Resolution Microscopy and Nanoanalysis.- Self-Organised and Quantum Domain Structures.- Processed Silicon and Other Device Materials.- Device and Doping Studies.- FIB, SEM and SPM Advances.
Több
