Atomic Force Microscopy, Scanning Nearfield Optical Microscopy and Nanoscratching
Application to Rough and Natural Surfaces
Sorozatcím: NanoScience and Technology;
-
20% KEDVEZMÉNY?
- A kedvezmény csak az 'Értesítés a kedvenc témákról' hírlevelünk címzettjeinek rendeléseire érvényes.
- Kiadói listaár EUR 213.99
-
88 752 Ft (84 526 Ft + 5% áfa)
Az ár azért becsült, mert a rendelés pillanatában nem lehet pontosan tudni, hogy a beérkezéskor milyen lesz a forint árfolyama az adott termék eredeti devizájához képest. Ha a forint romlana, kissé többet, ha javulna, kissé kevesebbet kell majd fizetnie.
- Kedvezmény(ek) 20% (cc. 17 750 Ft off)
- Kedvezményes ár 71 002 Ft (67 621 Ft + 5% áfa)
Iratkozzon fel most és részesüljön kedvezőbb árainkból!
Feliratkozom
88 752 Ft
Beszerezhetőség
Megrendelésre a kiadó utánnyomja a könyvet. Rendelhető, de a szokásosnál kicsit lassabban érkezik meg.
Why don't you give exact delivery time?
A beszerzés időigényét az eddigi tapasztalatokra alapozva adjuk meg. Azért becsült, mert a terméket külföldről hozzuk be, így a kiadó kiszolgálásának pillanatnyi gyorsaságától is függ. A megadottnál gyorsabb és lassabb szállítás is elképzelhető, de mindent megteszünk, hogy Ön a lehető leghamarabb jusson hozzá a termékhez.
A termék adatai:
- Kiadás sorszáma Softcover reprint of hardcover 1st ed. 2006
- Kiadó Springer Berlin Heidelberg
- Megjelenés dátuma 2010. február 12.
- Kötetek száma 1 pieces, Previously published in hardcover
- ISBN 9783642066634
- Kötéstípus Puhakötés
- Lásd még 9783540284055
- Terjedelem292 oldal
- Méret 235x155 mm
- Súly 474 g
- Nyelv angol
- Illusztrációk XII, 292 p. Tables, black & white 0
Kategóriák
Hosszú leírás:
Making a clear distinction is made between nano- and micro-mechanical testing for physical reasons, this monograph describes the basics and applications of the supermicroscopies AFM and SNOM, and of the nanomechanical testing on rough and technical natural surfaces in the submicron range down to a lateral resolution of a few nm. New or improved instrumentation, new physical laws and unforeseen new applications in all branches of natural sciences (around physics, chemistry, mineralogy, materials science, biology and medicine) and nanotechnology are covered as well as the sources for pitfalls and errors. It outlines the handling of natural and technical samples in relation to those of flat standard samples and emphasizes new special features. Pitfalls and sources of errors are clearly demonstrated as well as their efficient remedy when going from molecularly flat to rough surfaces. The academic or industrial scientist learns how to apply the principles for tackling their scientific or manufacturing tasks that include roughness far away from standard samples.
TöbbTartalomjegyzék:
Atomic Force Microscopy.- Scanning Near-Field Optical Microscopy.- Nanoindentation.- Nanoscratching.
Több
The Developmental Logic of Social Systems
12 660 Ft
11 647 Ft
Hyperhidrosis: Causes, Treatment Options and Outcomes
55 414 Ft
49 872 Ft
Rethinking Intentionality, Person and the Essence: Aquinas, Scotus, Stein
51 843 Ft
47 696 Ft
