Applied Optical Metrology II
Sorozatcím: Proceedings of SPIE;
-
8% KEDVEZMÉNY?
- A kedvezmény csak az 'Értesítés a kedvenc témákról' hírlevelünk címzettjeinek rendeléseire érvényes.
- Kiadói listaár EUR 85.00
-
35 253 Ft (33 575 Ft + 5% áfa)
Az ár azért becsült, mert a rendelés pillanatában nem lehet pontosan tudni, hogy a beérkezéskor milyen lesz a forint árfolyama az adott termék eredeti devizájához képest. Ha a forint romlana, kissé többet, ha javulna, kissé kevesebbet kell majd fizetnie.
- Kedvezmény(ek) 8% (cc. 2 820 Ft off)
- Kedvezményes ár 32 433 Ft (30 889 Ft + 5% áfa)
Iratkozzon fel most és részesüljön kedvezőbb árainkból!
Feliratkozom
35 253 Ft
Beszerezhetőség
Bizonytalan a beszerezhetőség. Érdemes még egyszer keresni szerzővel és címmel. Ha nem talál másik, kapható kiadást, forduljon ügyfélszolgálatunkhoz!
Why don't you give exact delivery time?
A beszerzés időigényét az eddigi tapasztalatokra alapozva adjuk meg. Azért becsült, mert a terméket külföldről hozzuk be, így a kiadó kiszolgálásának pillanatnyi gyorsaságától is függ. A megadottnál gyorsabb és lassabb szállítás is elképzelhető, de mindent megteszünk, hogy Ön a lehető leghamarabb jusson hozzá a termékhez.
A termék adatai:
- Kiadó SPIE
- Megjelenés dátuma 2018. január 30.
- Kötetek száma Paperback
- ISBN 9781510612037
- Kötéstípus Puhakötés
- Terjedelem292 oldal
- Méret 279x216 mm
- Nyelv angol 0
Kategóriák
Rövid leírás:
Proceedings of SPIE offer access to the latest innovations in research and technology and are among the most cited references in patent literature.
TöbbHosszú leírás:
Proceedings of SPIE present the original research papers presented at SPIE conferences and other high-quality conferences in the broad-ranging fields of optics and photonics. These books provide prompt access to the latest innovations in research and technology in their respective fields. Proceedings of SPIE are among the most cited references in patent literature.
Több
Applied Optical Metrology II
35 253 Ft
32 433 Ft
