Analytical Methods and Instruments for Micro- and Nanomaterials
Sorozatcím: Lecture Notes in Nanoscale Science and Technology; 23;
-
20% KEDVEZMÉNY?
- A kedvezmény csak az 'Értesítés a kedvenc témákról' hírlevelünk címzettjeinek rendeléseire érvényes.
- Kiadói listaár EUR 181.89
-
75 438 Ft (71 846 Ft + 5% áfa)
Az ár azért becsült, mert a rendelés pillanatában nem lehet pontosan tudni, hogy a beérkezéskor milyen lesz a forint árfolyama az adott termék eredeti devizájához képest. Ha a forint romlana, kissé többet, ha javulna, kissé kevesebbet kell majd fizetnie.
- Kedvezmény(ek) 20% (cc. 15 088 Ft off)
- Kedvezményes ár 60 351 Ft (57 477 Ft + 5% áfa)
Iratkozzon fel most és részesüljön kedvezőbb árainkból!
Feliratkozom
75 438 Ft
Beszerezhetőség
Megrendelésre a kiadó utánnyomja a könyvet. Rendelhető, de a szokásosnál kicsit lassabban érkezik meg.
Why don't you give exact delivery time?
A beszerzés időigényét az eddigi tapasztalatokra alapozva adjuk meg. Azért becsült, mert a terméket külföldről hozzuk be, így a kiadó kiszolgálásának pillanatnyi gyorsaságától is függ. A megadottnál gyorsabb és lassabb szállítás is elképzelhető, de mindent megteszünk, hogy Ön a lehető leghamarabb jusson hozzá a termékhez.
A termék adatai:
- Kiadás sorszáma 2023
- Kiadó Springer International Publishing
- Megjelenés dátuma 2024. augusztus 12.
- Kötetek száma 1 pieces, Book
- ISBN 9783031264368
- Kötéstípus Puhakötés
- Lásd még 9783031264337
- Terjedelem282 oldal
- Méret 235x155 mm
- Nyelv angol
- Illusztrációk XVI, 282 p. 195 illus., 136 illus. in color. Illustrations, black & white 586
Kategóriák
Hosszú leírás:
This book describes analytical instruments widely used to characterize the nanostructured materials. It provides information about how to assess material quality, defects, the state of surfaces and interfaces, element distributions, strain, lattice distortion, and electro-optical properties of materials and devices. The information provided by this book can be used as a back-up for material processing, material design and debugging of device performance. The basic principles and methodology of each analysis technique is described in separate chapters, adding historic perspectives and recent developments. The data analysis, from simple to advanced level, is introduced by numerous examples, mostly taken from the authors' fields of research; semiconductor materials, metals and oxides.
The book serves as a valuable guide for scientists and students working in materials science, physics, and engineering, who wish to become acquainted with the most important analytical techniques for nanomaterials.
Több
Tartalomjegyzék:
Part one: Material Characterization using Photons and Electrons.- X-ray diffraction techniques.- Micro-photoluminescence (μ-PL).- Spectroscopy techniques.- Electron Microscopy.- Part two: Material Characterization using Ions.- Rutherford backscattering Spectroscopy.- Secondary ion mass spectroscopy.- Part three: Electrical Measurements.- Electrical Characterization techniques.- Part four: Scanning Probe Techniques.- Scanning Probe Microscopies (SPMs).
Assessing Science Understanding: A Human Constructivist View
34 818 Ft
31 336 Ft
Third International Conference on Image Processing and Capsule Networks: ICIPCN 2022