Advances in X-Ray Analysis by Barrett, C.S.; Gilfrich, John V.; Huang, Ting C.;

Volume 35B

20% KEDVEZMÉNY?
A kedvezmény csak az 'Értesítés a kedvenc témákról' hírlevelünk címzettjeinek rendeléseire érvényes.

Kiadói listaár EUR 53.49
Az ár azért becsült, mert a rendelés pillanatában nem lehet pontosan tudni, hogy a beérkezéskor milyen lesz a forint árfolyama az adott termék eredeti devizájához képest. Ha a forint romlana, kissé többet, ha javulna, kissé kevesebbet kell majd fizetnie.

22 184 Ft (21 128 Ft + 5% áfa)
Kedvezmény(ek) 20% (cc. 4 437 Ft off)
Kedvezményes ár 17 748 Ft (16 902 Ft + 5% áfa)

22 184 Ft

Beszerezhetőség

Megrendelésre a kiadó utánnyomja a könyvet. Rendelhető, de a szokásosnál kicsit lassabban érkezik meg.

A termék adatai:

Kiadás sorszáma Softcover reprint of the original 1st ed. 1992
Kiadó Springer US
Megjelenés dátuma 2012. november 21.
Kötetek száma 1 pieces, Book

ISBN 9781461365327
Kötéstípus Puhakötés
Terjedelem641 oldal
Méret 244x170 mm
Súly 1100 g
Nyelv angol
Illusztrációk IV, 641 p.

Kategóriák

Analitikai kémia Villamosmérnöki tudományok, híradástechnika, műszeripar Gépészmérnöki tudományok Energetika, energiaipar Üzemmérnöki tudományok Analitikai kémia (karitatív célú kampány) Villamosmérnöki tudományok, híradástechnika, műszeripar (karitatív célú kampány) Gépészmérnöki tudományok (karitatív célú kampány) Energetika, energiaipar (karitatív célú kampány) Üzemmérnöki tudományok (karitatív célú kampány)

Tartalomjegyzék:

Whole Pattern Fitting, Rietveld Analysis, and Calculated Diffraction Patterns. Quantitative Phase Analysis by XRay Diffraction (XRD). Thin Film and Surface Characterization by XRD. Lattice Defects and XRay Topography. Texture Analysis by XRD. XRD Instrumentation, Techniques, and Reference Materials. Stress Determination by Diffraction Methods. XRD Profile Fitting, Crystallite Size and Strain Determination. XRD Applications: Detection Limits, Superconductors, Organics, Minerals. Mathematical Methods in XRay Spectrometry (XRS). Thin Film and Surface Characterization by XRS and XPS. Total Reflection XRS. XRS Techniques and Instrumentation. XRS Applications. XRay Imaging and Tomography. 161 articles. Index.

Több

Mostanában megtekintett