Advances in X-Ray Analysis by Barrett, C.S.; Gilfrich, John V.; Huang, Ting C.;

Volume 35B

8% KEDVEZMÉNY?
A kedvezmény csak az 'Értesítés a kedvenc témákról' hírlevelünk címzettjeinek rendeléseire érvényes.

Kiadói listaár EUR 87.95
Az ár azért becsült, mert a rendelés pillanatában nem lehet pontosan tudni, hogy a beérkezéskor milyen lesz a forint árfolyama az adott termék eredeti devizájához képest. Ha a forint romlana, kissé többet, ha javulna, kissé kevesebbet kell majd fizetnie.

36 477 Ft (34 740 Ft + 5% áfa)
Kedvezmény(ek) 8% (cc. 2 918 Ft off)
Kedvezményes ár 33 559 Ft (31 961 Ft + 5% áfa)

36 477 Ft

Beszerezhetőség

Bizonytalan a beszerezhetőség. Érdemes még egyszer keresni szerzővel és címmel. Ha nem talál másik, kapható kiadást, forduljon ügyfélszolgálatunkhoz!

A termék adatai:

Kiadó Springer
Megjelenés dátuma 1992. október 31.
Kötetek száma Book

ISBN 9780306442490
Kötéstípus Keménykötés
Terjedelem1334 oldal
Súly 2760 g
Nyelv angol
Illusztrációk 65 Illustrations, black & white

Kategóriák

Analitikai kémia Villamosmérnöki tudományok, híradástechnika, műszeripar Gépészmérnöki tudományok Energetika, energiaipar

Tartalomjegyzék:

Whole Pattern Fitting, Rietveld Analysis, and Calculated Diffraction Patterns. Quantitative Phase Analysis by XRay Diffraction (XRD). Thin Film and Surface Characterization by XRD. Lattice Defects and XRay Topography. Texture Analysis by XRD. XRD Instrumentation, Techniques, and Reference Materials. Stress Determination by Diffraction Methods. XRD Profile Fitting, Crystallite Size and Strain Determination. XRD Applications: Detection Limits, Superconductors, Organics, Minerals. Mathematical Methods in XRay Spectrometry (XRS). Thin Film and Surface Characterization by XRS and XPS. Total Reflection XRS. XRS Techniques and Instrumentation. XRS Applications. XRay Imaging and Tomography. 161 articles. Index.

Több

Mostanában megtekintett