Advances in X-Ray Analysis
Volume 33
-
12% KEDVEZMÉNY?
- A kedvezmény csak az 'Értesítés a kedvenc témákról' hírlevelünk címzettjeinek rendeléseire érvényes.
- Kiadói listaár EUR 85.55
-
35 481 Ft (33 792 Ft + 5% áfa)
Az ár azért becsült, mert a rendelés pillanatában nem lehet pontosan tudni, hogy a beérkezéskor milyen lesz a forint árfolyama az adott termék eredeti devizájához képest. Ha a forint romlana, kissé többet, ha javulna, kissé kevesebbet kell majd fizetnie.
- Kedvezmény(ek) 12% (cc. 4 258 Ft off)
- Kedvezményes ár 31 224 Ft (29 737 Ft + 5% áfa)
Iratkozzon fel most és részesüljön kedvezőbb árainkból!
Feliratkozom
35 481 Ft
Beszerezhetőség
A kiadónál átmenetileg nincs raktáron, ezért a szokásosnál (2-4 hét) többet kell várni a beszerzésre. Ez általában néhány hét plusz időt jelent.
Why don't you give exact delivery time?
A beszerzés időigényét az eddigi tapasztalatokra alapozva adjuk meg. Azért becsült, mert a terméket külföldről hozzuk be, így a kiadó kiszolgálásának pillanatnyi gyorsaságától is függ. A megadottnál gyorsabb és lassabb szállítás is elképzelhető, de mindent megteszünk, hogy Ön a lehető leghamarabb jusson hozzá a termékhez.
A termék adatai:
- Kiadás sorszáma 1990
- Kiadó Springer US
- Megjelenés dátuma 1990. június 1.
- Kötetek száma 1 pieces, Book
- ISBN 9780306436154
- Kötéstípus Keménykötés
- Lásd még 9781461399988
- Terjedelem704 oldal
- Méret 0x0 mm
- Súly 1430 g
- Nyelv angol
- Illusztrációk XX, 704 p. 0
Kategóriák
Hosszú leírás:
The 38th Annual Denver Conference on Applications of X-Ray Analysis was held July 31 - August 4, 1989, at the Sheraton Denver Technical Center, Denver, Colorado. The conference alternates emphasis between x-ray diffraction and x-ray fluorescence, and this being an odd year the emphasis was on diffraction. Thus the Plenary Session was slanted toward diffraction in general and thin film analysis in particular. The Plenary Session on x-ray analysis of thin films did not just happen this year but really began four years ago with Paul Predecki suggesting a special session devoted to thin film techniques. The session generated a great deal of interest, so Paul suggested that a workshop on thin films should be slated for the 1987 conference. A full day was devoted to the workshop, which was split into a half day on epitaxial thin films and the other half day on polycrystalline thin films. The workshop attendance indicated a great deal of interest in this topic, leading to this year's Plenary Session. The first two speakers of the Plenary Session (B. Tanner and K. Bowen) have been key throughout the thin film activities. They were invited speakers for the 1985 special session on thin films and instructors for the 1987 workshop on epitaxial thin films.
TöbbTartalomjegyzék:
I. Characterization of Epitaxial Thin Films and Crystal Defects by X-Ray Diffraction.- II. XRD Characterization of Polycrystalline Thin Films.- III. X-Ray Spectrometric Characterization of Thin Films.- IV. Analysis of Digital Diffraction Data Including Rietveld.- V. X-Ray Stress Analysis.- VI. Determination of Crystallite Size and Strain.- VII. Phase Identification, Structural and Quantitative Analysis by Diffraction.- VIII. X-Ray Spectrometry Data Analysis.- IX. XRF Instrumentation.- X. XRF Techniques for Hazardous Wastes and Other Applications.- Author Index.
Több
Science Voyage Level 5 Student's Book with Poster and Cambridge GO
2 818 Ft
2 536 Ft
The Ultimate Guide to the Names of God
7 031 Ft
6 468 Ft
Loose Leaf Edition Fundamentals of Corporate Finance
77 390 Ft
69 651 Ft
