Microscopy of Semiconducting Materials
Proceedings of the 14th Conference, April 11-14, 2005, Oxford, UK
Sorozatcím: Springer Proceedings in Physics; 107;
-
20% KEDVEZMÉNY?
- A kedvezmény csak az 'Értesítés a kedvenc témákról' hírlevelünk címzettjeinek rendeléseire érvényes.
- Kiadói listaár EUR 213.99
-
88 752 Ft (84 526 Ft + 5% áfa)
Az ár azért becsült, mert a rendelés pillanatában nem lehet pontosan tudni, hogy a beérkezéskor milyen lesz a forint árfolyama az adott termék eredeti devizájához képest. Ha a forint romlana, kissé többet, ha javulna, kissé kevesebbet kell majd fizetnie.
- Kedvezmény(ek) 20% (cc. 17 750 Ft off)
- Kedvezményes ár 71 002 Ft (67 621 Ft + 5% áfa)
Iratkozzon fel most és részesüljön kedvezőbb árainkból!
Feliratkozom
88 752 Ft
Beszerezhetőség
Becsült beszerzési idő: A Prosperónál jelenleg nincsen raktáron, de a kiadónál igen. Beszerzés kb. 3-5 hét..
A Prosperónál jelenleg nincsen raktáron.
Why don't you give exact delivery time?
A beszerzés időigényét az eddigi tapasztalatokra alapozva adjuk meg. Azért becsült, mert a terméket külföldről hozzuk be, így a kiadó kiszolgálásának pillanatnyi gyorsaságától is függ. A megadottnál gyorsabb és lassabb szállítás is elképzelhető, de mindent megteszünk, hogy Ön a lehető leghamarabb jusson hozzá a termékhez.
A termék adatai:
- Kiadás sorszáma 2005
- Kiadó Springer Berlin Heidelberg
- Megjelenés dátuma 2006. április 10.
- Kötetek száma 1 pieces, Book
- ISBN 9783540319146
- Kötéstípus Keménykötés
- Terjedelem540 oldal
- Méret 235x155 mm
- Súly 2100 g
- Nyelv angol
- Illusztrációk XVI, 540 p. 0
Kategóriák
Hosszú leírás:
This is a long-established international biennial conference series, organised in conjunction with the Royal Microscopical Society, Oxford, the Institute of Physics, London and the Materials Research Society, USA. The 14th conference in the series focused on the most recent advances in the study of the structural and electronic properties of semiconducting materials by the application of transmission and scanning electron microscopy. The latest developments in the use of other important microcharacterisation techniques were also covered and included the latest work using scanning probe microscopy and also X-ray topography and diffraction. Developments in materials science and technology covering the complete range of elemental and compound semiconductors are described in this volume.
TöbbTartalomjegyzék:
Epitaxy: Wide Band-Gap Nitrides.- Epitaxy: Silicon-Germanium Alloys.- Epitaxy: Growth and Defect Phenomena.- High Resolution Microscopy and Nanoanalysis.- Self-Organised and Quantum Domain Structures.- Processed Silicon and Other Device Materials.- Device Studies.- Scanning Electron and Scanning Probe Advances.
Több
