Control of Semiconductor Surfaces and Interfaces: Volume 448
Sorozatcím: MRS Proceedings;
-
10% KEDVEZMÉNY?
- A kedvezmény csak az 'Értesítés a kedvenc témákról' hírlevelünk címzettjeinek rendeléseire érvényes.
- Kiadói listaár GBP 22.99
-
10 983 Ft (10 460 Ft + 5% áfa)
Az ár azért becsült, mert a rendelés pillanatában nem lehet pontosan tudni, hogy a beérkezéskor milyen lesz a forint árfolyama az adott termék eredeti devizájához képest. Ha a forint romlana, kissé többet, ha javulna, kissé kevesebbet kell majd fizetnie.
- Kedvezmény(ek) 10% (cc. 1 098 Ft off)
- Kedvezményes ár 9 885 Ft (9 414 Ft + 5% áfa)
Iratkozzon fel most és részesüljön kedvezőbb árainkból!
Feliratkozom
10 983 Ft
Beszerezhetőség
Bizonytalan ideig nincs raktáron a kiadónál, rendelése nem javasolt.
Why don't you give exact delivery time?
A beszerzés időigényét az eddigi tapasztalatokra alapozva adjuk meg. Azért becsült, mert a terméket külföldről hozzuk be, így a kiadó kiszolgálásának pillanatnyi gyorsaságától is függ. A megadottnál gyorsabb és lassabb szállítás is elképzelhető, de mindent megteszünk, hogy Ön a lehető leghamarabb jusson hozzá a termékhez.
A termék adatai:
- Kiadó Materials Research Society
- Megjelenés dátuma 1997. július 15.
- ISBN 9781558993525
- Kötéstípus Keménykötés
- Terjedelem505 oldal
- Méret 230x156 mm
- Súly 886 g
- Nyelv angol 0
Kategóriák
Rövid leírás:
The MRS Symposium Proceeding series is an internationally recognised reference suitable for researchers and practitioners.
TöbbHosszú leírás:
Semiconductor surfaces and interfaces play a vital role in modern-day electronic devices. This is especially true as device dimensions shrink. The properties of clean surfaces and chemically processed surfaces can also have a significant impact on the properties of subsequently grown layers. These surfaces and interfaces may exhibit modified structural, electronic and optical properties, so it is important to understand their effects on subsequent growth, processing and device fabrication. Topics in the book include: structure of surfaces; control of surface defects and properties through chemical etching and passivation; modification of surfaces for growth and processing; nucleation on semiconductor surfaces and self-assembly; the effects of surfaces and interfaces on subsequent growth; and the properties of semiconductor/dielectric and semiconductor/ metal interfaces. In situ and ex situ monitoring of these properties, using various electrical and optical techniques are also presented.
Több
