Advances in Imaging and Electron Physics
Optics of Charged Particle Analyzers
Sorozatcím: Advances in Imaging and Electron Physics; 162;
-
20% KEDVEZMÉNY?
- A kedvezmény csak az 'Értesítés a kedvenc témákról' hírlevelünk címzettjeinek rendeléseire érvényes.
- Kiadói listaár EUR 200.00
-
82 950 Ft (79 000 Ft + 5% áfa)
Az ár azért becsült, mert a rendelés pillanatában nem lehet pontosan tudni, hogy a beérkezéskor milyen lesz a forint árfolyama az adott termék eredeti devizájához képest. Ha a forint romlana, kissé többet, ha javulna, kissé kevesebbet kell majd fizetnie.
- Kedvezmény(ek) 20% (cc. 16 590 Ft off)
- Kedvezményes ár 66 360 Ft (63 200 Ft + 5% áfa)
Iratkozzon fel most és részesüljön kedvezőbb árainkból!
Feliratkozom
82 950 Ft
Beszerezhetőség
Megrendelésre a kiadó utánnyomja a könyvet. Rendelhető, de a szokásosnál kicsit lassabban érkezik meg.
Why don't you give exact delivery time?
A beszerzés időigényét az eddigi tapasztalatokra alapozva adjuk meg. Azért becsült, mert a terméket külföldről hozzuk be, így a kiadó kiszolgálásának pillanatnyi gyorsaságától is függ. A megadottnál gyorsabb és lassabb szállítás is elképzelhető, de mindent megteszünk, hogy Ön a lehető leghamarabb jusson hozzá a termékhez.
A termék adatai:
- Kiadó Elsevier Science
- Megjelenés dátuma 2010. augusztus 6.
- ISBN 9780123813169
- Kötéstípus Keménykötés
- Terjedelem296 oldal
- Méret 228x152 mm
- Súly 530 g
- Nyelv angol 0
Kategóriák
Hosszú leírás:
Advances in Imaging and Electron Physics merges two long-running serials--Advances in Electronics and Electron Physics and Advances in Optical and Electron Microscopy.
This series features extended articles on the physics of electron devices (especially semiconductor devices), particle optics at high and low energies, microlithography, image science and digital image processing, electromagnetic wave propagation, electron microscopy, and the computing methods used in all these domains.
TöbbTartalomjegyzék:
1. Energy Filtered X-ray Photoemission electronmicroscopy(EXPEEM)- Kiyotaka Asakura
2. Image contrast in aberration-corrected scanningconfocal electron microscopy- E.C. Cosgriff
3. Comparison of color demosaicing methods- O. Lossona
4. New dimensions for field emission: effects of structure in the emitting surface- C. J. Edgcombe
5. Conductivity Imaging and Generalised RadonTransform: a review- Archontis Giannakidis
6. Identification Of Historical Pigments In Wall Layers By Combination Of Optical And Scanning Electron Microscopy Coupled To Energy Dispersive Spectroscopy- A. Sever Skapin
Több
Teach Yourself Polish Double CD 6th Edition
10 025 Ft
9 023 Ft
Coping Power: Child Group Workbook
6 683 Ft
6 015 Ft
The GEM Principle: Six Steps to Creating a High Performance Organization
14 327 Ft
12 895 Ft
