High-Resolution Electron Microscopy
-
10% KEDVEZMÉNY?
- A kedvezmény csak az 'Értesítés a kedvenc témákról' hírlevelünk címzettjeinek rendeléseire érvényes.
- Kiadói listaár GBP 147.50
-
66 596 Ft (63 425 Ft + 5% áfa)
Az ár azért becsült, mert a rendelés pillanatában nem lehet pontosan tudni, hogy a beérkezéskor milyen lesz a forint árfolyama az adott termék eredeti devizájához képest. Ha a forint romlana, kissé többet, ha javulna, kissé kevesebbet kell majd fizetnie.
- Kedvezmény(ek) 10% (cc. 6 660 Ft off)
- Kedvezményes ár 59 937 Ft (57 083 Ft + 5% áfa)
Iratkozzon fel most és részesüljön kedvezőbb árainkból!
Feliratkozom
66 596 Ft
Beszerezhetőség
Bizonytalan ideig nincs raktáron a kiadónál, rendelése nem javasolt.
Why don't you give exact delivery time?
A beszerzés időigényét az eddigi tapasztalatokra alapozva adjuk meg. Azért becsült, mert a terméket külföldről hozzuk be, így a kiadó kiszolgálásának pillanatnyi gyorsaságától is függ. A megadottnál gyorsabb és lassabb szállítás is elképzelhető, de mindent megteszünk, hogy Ön a lehető leghamarabb jusson hozzá a termékhez.
A termék adatai:
- Kiadás sorszáma 4
- Kiadó OUP Oxford
- Megjelenés dátuma 2013. szeptember 12.
- ISBN 9780199668632
- Kötéstípus Keménykötés
- Terjedelem432 oldal
- Méret 246x177x27 mm
- Súly 1028 g
- Nyelv angol
- Illusztrációk 163 b/w illustrations, 4 colour plates 0
Kategóriák
Rövid leírás:
This book gives the basic theoretical background needed to understand how electron microscopes allow us to see atoms, together with highly practical advice for electron microscope operators. It covers the usefulness of seeing atoms in the semiconductor industry, in materials science, in condensed matter physics, and in biology.
TöbbHosszú leírás:
This new fourth edition of the standard text on atomic-resolution transmission electron microscopy (TEM) retains previous material on the fundamentals of electron optics and aberration correction, linear imaging theory (including wave aberrations to fifth order) with partial coherence, and multiple-scattering theory. Also preserved are updated earlier sections on practical methods, with detailed step-by-step accounts of the procedures needed to obtain the highest quality images of atoms and molecules using a modern TEM or STEM electron microscope. Applications sections have been updated - these include the semiconductor industry, superconductor research, solid state chemistry and nanoscience, and metallurgy, mineralogy, condensed matter physics, materials science and material on cryo-electron microscopy for structural biology. New or expanded sections have been added on electron holography, aberration correction, field-emission guns, imaging filters, super-resolution methods, Ptychography, Ronchigrams, tomography, image quantification and simulation, radiation damage, the measurement of electron-optical parameters, and detectors (CCD cameras, Image plates and direct-injection solid state detectors). The theory of Scanning transmission electron microscopy (STEM) and Z-contrast are treated comprehensively. Chapters are devoted to associated techniques, such as energy-loss spectroscopy, Alchemi, nanodiffraction, environmental TEM, twisty beams for magnetic imaging, and cathodoluminescence. Sources of software for image interpretation and electron-optical design are given.
... Essential reading for anyone interested in HREM and its applications in materials characterization. The fourth edition provides much needed updates on aberration correction and the latest developments in electron detection technology and analytical microscopic techniques.
Tartalomjegyzék:
Preliminaries
Electron Optics
Wave Optics
Coherence and Fourier Optics
Imaging Thin Crystals and their Defects
Imaging Molecules: Radiation Damage
Image Processing, Super-Resolution, Diffractive Imaging
STEM and Z-contrast
Electron Sources and Detectors
Measurement of Electron-Optical Parameters
Instabilities and the Microscope Environment
Experimental Methods
Associated Techniques and Software Resources
Appendices
