-
10% KEDVEZMÉNY?
- A kedvezmény csak az 'Értesítés a kedvenc témákról' hírlevelünk címzettjeinek rendeléseire érvényes.
- Kiadói listaár EUR 72.95
-
28 494 Ft (27 137 Ft + 5% áfa)
Az ár azért becsült, mert a rendelés pillanatában nem lehet pontosan tudni, hogy a beérkezéskor milyen lesz a forint árfolyama az adott termék eredeti devizájához képest. Ha a forint romlana, kissé többet, ha javulna, kissé kevesebbet kell majd fizetnie.
- Kedvezmény(ek) 10% (kb. 2 850 Ft)
- Kedvezményes ár 25 644 Ft (24 423 Ft + 5% áfa)
Iratkozzon fel most és részesüljön kedvezőbb árainkból!
Feliratkozom
28 494 Ft
Beszerezhetőség
Megrendelésre a kiadó utánnyomja a könyvet. Rendelhető, de a szokásosnál kicsit lassabban érkezik meg.
Why don't you give exact delivery time?
A beszerzés időigényét az eddigi tapasztalatokra alapozva adjuk meg. Azért becsült, mert a terméket külföldről hozzuk be, így a kiadó kiszolgálásának pillanatnyi gyorsaságától is függ. A megadottnál gyorsabb és lassabb szállítás is elképzelhető, de mindent megteszünk, hogy Ön a lehető leghamarabb jusson hozzá a termékhez.
A termék adatai:
- Kiadó Elsevier Science
- Megjelenés dátuma 2006. augusztus 14.
- ISBN 9780123705976
- Kötéstípus Keménykötés
- Terjedelem808 oldal
- Méret 234x190 mm
- Súly 1770 g
- Nyelv angol 0
Kategóriák
Hosszú leírás:
This book is a comprehensive guide to new DFT methods that will show the readers how to design a testable and quality product, drive down test cost, improve product quality and yield, and speed up time-to-market and time-to-volume.
TöbbTartalomjegyzék:
Chapter 1 - Introduction
Chapter 2 - Design for Testability
Chapter 3 - Logic and Fault Simulation
Chapter 4 - Test Generation
Chapter 5 - Logic Built-In Self-Test
Chapter 6 - Test Compression
Chapter 7 - Logic Diagnosis
Chapter 8 - Memory Testing and Built-In Self-Test
Chapter 9 - Memory Diagnosis and Built-In Self-Repair
Chapter 10 - Boundary Scan and Core-Based Testing
Chapter 11 - Analog and Mixed-Signal Testing
Chapter 12 - Test Technology Trends in the Nanometer Age
