System-on-Chip Test Architectures
Nanometer Design for Testability
Sorozatcím: Systems on Silicon; .;
-
10% KEDVEZMÉNY?
- A kedvezmény csak az 'Értesítés a kedvenc témákról' hírlevelünk címzettjeinek rendeléseire érvényes.
- Kiadói listaár EUR 74.95
-
29 275 Ft (27 881 Ft + 5% áfa)
Az ár azért becsült, mert a rendelés pillanatában nem lehet pontosan tudni, hogy a beérkezéskor milyen lesz a forint árfolyama az adott termék eredeti devizájához képest. Ha a forint romlana, kissé többet, ha javulna, kissé kevesebbet kell majd fizetnie.
- Kedvezmény(ek) 10% (kb. 2 927 Ft)
- Kedvezményes ár 26 348 Ft (25 093 Ft + 5% áfa)
Iratkozzon fel most és részesüljön kedvezőbb árainkból!
Feliratkozom
29 275 Ft
Beszerezhetőség
Megrendelésre a kiadó utánnyomja a könyvet. Rendelhető, de a szokásosnál kicsit lassabban érkezik meg.
Why don't you give exact delivery time?
A beszerzés időigényét az eddigi tapasztalatokra alapozva adjuk meg. Azért becsült, mert a terméket külföldről hozzuk be, így a kiadó kiszolgálásának pillanatnyi gyorsaságától is függ. A megadottnál gyorsabb és lassabb szállítás is elképzelhető, de mindent megteszünk, hogy Ön a lehető leghamarabb jusson hozzá a termékhez.
A termék adatai:
- Kiadó Elsevier Science
- Megjelenés dátuma 2008. január 8.
- ISBN 9780123739735
- Kötéstípus Keménykötés
- Terjedelem896 oldal
- Méret 234x190 mm
- Súly 1560 g
- Nyelv angol 0
Kategóriák
Hosszú leírás:
Modern electronics testing has a legacy of more than 40 years. The introduction of new technologies, especially nanometer technologies with 90nm or smaller geometry, has allowed the semiconductor industry to keep pace with the increased performance-capacity demands from consumers. As a result, semiconductor test costs have been growing steadily and typically amount to 40% of today's overall product cost. This book is a comprehensive guide to new VLSI Testing and Design-for-Testability techniques that will allow students, researchers, DFT practitioners, and VLSI designers to master quickly System-on-Chip Test architectures, for test debug and diagnosis of digital, memory, and analog/mixed-signal designs.
TöbbTartalomjegyzék:
Introduction; Digital Test Architectures; Fault-Tolerant Design; SOC/NOC Test Architectures; SIP Test Architectures; Delay Testing; Low-Power Testing; Coping with Physical Failures, Soft Errors, and Reliability Issues; Design for Manufacturability and Yield; Design for Debug and Diagnosis; Software-Based Self-Testing; FPGA Testing; MEMS Testing; High-Speed I/O Interface; Analog and Mixed-Signal Test Architectures; RF Testing; Testing Aspects of Nanotechnology Trends.
