Principles of Materials Characterization and Metrology
-
10% KEDVEZMÉNY?
- A kedvezmény csak az 'Értesítés a kedvenc témákról' hírlevelünk címzettjeinek rendeléseire érvényes.
- Kiadói listaár GBP 99.00
-
44 698 Ft (42 570 Ft + 5% áfa)
Az ár azért becsült, mert a rendelés pillanatában nem lehet pontosan tudni, hogy a beérkezéskor milyen lesz a forint árfolyama az adott termék eredeti devizájához képest. Ha a forint romlana, kissé többet, ha javulna, kissé kevesebbet kell majd fizetnie.
- Kedvezmény(ek) 10% (kb. 4 469 Ft)
- Kedvezményes ár 40 229 Ft (38 313 Ft + 5% áfa)
Iratkozzon fel most és részesüljön kedvezőbb árainkból!
Feliratkozom
44 698 Ft
Beszerezhetőség
Megrendelésre a kiadó utánnyomja a könyvet. Rendelhető, de a szokásosnál kicsit lassabban érkezik meg.
Why don't you give exact delivery time?
A beszerzés időigényét az eddigi tapasztalatokra alapozva adjuk meg. Azért becsült, mert a terméket külföldről hozzuk be, így a kiadó kiszolgálásának pillanatnyi gyorsaságától is függ. A megadottnál gyorsabb és lassabb szállítás is elképzelhető, de mindent megteszünk, hogy Ön a lehető leghamarabb jusson hozzá a termékhez.
A termék adatai:
- Kiadás sorszáma 1
- Kiadó OUP Oxford
- Megjelenés dátuma 2021. május 7.
- ISBN 9780198830252
- Kötéstípus Keménykötés
- Terjedelem880 oldal
- Méret 254x197x47 mm
- Súly 2030 g
- Nyelv angol
- Illusztrációk 564 line drawings, halftones, and colour images 85
Kategóriák
Rövid leírás:
This book provides a comprehensive introduction to the principles of materials characterization and metrology. Based on several decades of teaching experience, it includes many worked examples, questions and exercises, suitable for students at the undergraduate or beginning graduate level.
TöbbHosszú leírás:
Characterization enables a microscopic understanding of the fundamental properties of materials (Science) to predict their macroscopic behaviour (Engineering). With this focus, Principles of Materials Characterization and Metrology presents a comprehensive discussion of the principles of materials characterization and metrology. Characterization techniques are introduced through elementary concepts of bonding, electronic structure of molecules and solids, and the arrangement of atoms in crystals. Then, the range of electrons, photons, ions, neutrons and scanning probes, used in characterization, including their generation and related beam-solid interactions that determine or limit their use, is presented. This is followed by ion-scattering methods, optics, optical diffraction, microscopy, and ellipsometry. Generalization of Fraunhofer diffraction to scattering by a three-dimensional arrangement of atoms in crystals leads to X-ray, electron, and neutron diffraction methods, both from surfaces and the bulk. Discussion of transmission and analytical electron microscopy, including recent developments, is followed by chapters on scanning electron microscopy and scanning probe microscopies. The book concludes with elaborate tables to provide a convenient and easily accessible way of summarizing the key points, features, and inter-relatedness of the different spectroscopy, diffraction, and imaging techniques presented throughout.
Principles of Materials Characterization and Metrology uniquely combines a discussion of the physical principles and practical application of these characterization techniques to explain and illustrate the fundamental properties of a wide range of materials in a tool-based approach. Based on forty years of teaching and research, this book incorporates worked examples, to test the reader's knowledge with extensive questions and exercises.
An excellent book for graduate students and early career researchers ..., one of the best to review the present status of Materials Science. Strongly recommended.
Tartalomjegyzék:
Introduction to materials characterization, analysis, and metrology
Atomic structure and spectra
Bonding and spectra of molecules and solids
Crystallography and diffraction
Probes: sources and their interactions with matter
Optics, optical methods, and microscopy
X-ray diffraction
Diffraction of electrons and neutrons
Transmission and analytical electron microscopy
Scanning electron microscopy
Scanning probe microscopy
Summary tables
