Materials Analysis by Ion Channeling
Submicron Crystallography
-
10% KEDVEZMÉNY?
- A kedvezmény csak az 'Értesítés a kedvenc témákról' hírlevelünk címzettjeinek rendeléseire érvényes.
- Kiadói listaár EUR 51.95
-
21 546 Ft (20 520 Ft + 5% áfa)
Az ár azért becsült, mert a rendelés pillanatában nem lehet pontosan tudni, hogy a beérkezéskor milyen lesz a forint árfolyama az adott termék eredeti devizájához képest. Ha a forint romlana, kissé többet, ha javulna, kissé kevesebbet kell majd fizetnie.
- Kedvezmény(ek) 10% (cc. 2 155 Ft off)
- Kedvezményes ár 19 391 Ft (18 468 Ft + 5% áfa)
Iratkozzon fel most és részesüljön kedvezőbb árainkból!
Feliratkozom
21 546 Ft
Beszerezhetőség
Megjelenése törölve vagy kivonva a forgalomból. Sajnos nem rendelhető.
Why don't you give exact delivery time?
A beszerzés időigényét az eddigi tapasztalatokra alapozva adjuk meg. Azért becsült, mert a terméket külföldről hozzuk be, így a kiadó kiszolgálásának pillanatnyi gyorsaságától is függ. A megadottnál gyorsabb és lassabb szállítás is elképzelhető, de mindent megteszünk, hogy Ön a lehető leghamarabb jusson hozzá a termékhez.
A termék adatai:
- Kiadó Elsevier Science
- Megjelenés dátuma 1983. január 7.
- ISBN 9780122526800
- Kötéstípus Keménykötés
- Terjedelem300 oldal
- Méret 228x152 mm
- Súly 680 g
- Nyelv angol 0
Kategóriák
Hosszú leírás:
"Our intention has been to write a book that would be useful to people with a variety of levels of interest in this subject. Clearly it should be useful to both graduate students and workers in the field. We have attempted to bring together many of the concepts used in channeling beam analysis with an indication of the origin of the ideas within fundamental channeling theory. The level of the book is appropriate to senior under-graduates and graduate students who have had a modern physics course work in related areas of materials science and wish to learn more about the ""channeling"" probe, its strengths, weaknesses, and areas of further potential application. To them we hope we have explained this apparent paradox of using mega-electron volt ions to probe solid state phenomena that have characteristic energies of electron volts."
TöbbTartalomjegyzék:
Preface. Acknowledgments. Glossary of Symbols. Introduction. Interaction of Ion Beams with Surfaces. Channeling within the Crystal. Particle Distributions within the Channel. Dechanneling by Defects. Defect Depth Distributions. Surfaces. Surface Layers and Interfaces. Epitaxial Layers. Impurity-Defect Interactions. Appendix A. Atomic Scattering Concepts. Appendeix B: Lecture Notes on Channeling and the Continuum Potential.
Több