Ion Beams for Materials Analysis
-
10% KEDVEZMÉNY?
- A kedvezmény csak az 'Értesítés a kedvenc témákról' hírlevelünk címzettjeinek rendeléseire érvényes.
- Kiadói listaár EUR 67.95
-
28 182 Ft (26 840 Ft + 5% áfa)
Az ár azért becsült, mert a rendelés pillanatában nem lehet pontosan tudni, hogy a beérkezéskor milyen lesz a forint árfolyama az adott termék eredeti devizájához képest. Ha a forint romlana, kissé többet, ha javulna, kissé kevesebbet kell majd fizetnie.
- Kedvezmény(ek) 10% (cc. 2 818 Ft off)
- Kedvezményes ár 25 364 Ft (24 156 Ft + 5% áfa)
Iratkozzon fel most és részesüljön kedvezőbb árainkból!
Feliratkozom
28 182 Ft
Beszerezhetőség
A kiadónál véglegesen elfogyott, nem rendelhető. Érdemes újra keresni a címmel, hátha van újabb kiadás.
Why don't you give exact delivery time?
A beszerzés időigényét az eddigi tapasztalatokra alapozva adjuk meg. Azért becsült, mert a terméket külföldről hozzuk be, így a kiadó kiszolgálásának pillanatnyi gyorsaságától is függ. A megadottnál gyorsabb és lassabb szállítás is elképzelhető, de mindent megteszünk, hogy Ön a lehető leghamarabb jusson hozzá a termékhez.
A termék adatai:
- Kiadó Academic Press
- Megjelenés dátuma 1990. február 5.
- ISBN 9780120997404
- Kötéstípus Keménykötés
- Terjedelem719 oldal
- Méret 229x152 mm
- Súly 1188 g
- Nyelv angol 0
Kategóriák
Hosszú leírás:
The use of ion beams for materials analysis involves many different ion-atom interaction processes which previously have largely been considered in separate reviews and texts. A list of books and conference proceedings is given in Table 2. This book is divided into three parts, the first which treats all ion beam techniques and their applications in such diverse fields as materials science, thin film and semiconductor technology, surface science, geology, biology, medicine, environmental science, archaeology and so on.
"This book is a very welcome addition to the literature on ion beam analysis (IBA). In a field marked by numerous proceedings and reviews on current developments, this work distinguishes itself by providing clear perspective on the entire field of IBA. At the same time it is chock full of useful data, examples. comparisons, and advice. In short this book is a must for anyone seriously embarking into the field of IBA. It should allow one to avoid serious pitfalls and be knowledgeable of the many tricks and refinements available. Even experienced practitioners should find the volume a valuable compilation, worthy of keeping in handy spot on their bookshelf." --NUCLEAR INSTRUMENTS
Tartalomjegyzék:
Concepts and Principles of Ion Beam Analysis. Techniques and Equipment. High Energy Ion Scattering Spectrometry. Nuclear Reactions. Ion Induced X-ray Emission. Channelling. Depth Profiling of Surface Layers during Ion Bombardment. Low Energy Ion Scattering from Surfaces. Ion Scattering from Surfaces and Interfaces. Microprobe Analysis. Critical Assessment of Analysis Capabilities. General Methods. Directory of Materials. Data Lists.
Több
