Electron Diffraction Techniques: Volume 2
Sorozatcím: International Union of Crystallography Monographs on Crystallography; 4;
-
10% KEDVEZMÉNY?
- A kedvezmény csak az 'Értesítés a kedvenc témákról' hírlevelünk címzettjeinek rendeléseire érvényes.
- Kiadói listaár GBP 195.00
-
88 042 Ft (83 850 Ft + 5% áfa)
Az ár azért becsült, mert a rendelés pillanatában nem lehet pontosan tudni, hogy a beérkezéskor milyen lesz a forint árfolyama az adott termék eredeti devizájához képest. Ha a forint romlana, kissé többet, ha javulna, kissé kevesebbet kell majd fizetnie.
- Kedvezmény(ek) 10% (cc. 8 804 Ft off)
- Kedvezményes ár 79 238 Ft (75 465 Ft + 5% áfa)
Iratkozzon fel most és részesüljön kedvezőbb árainkból!
Feliratkozom
88 042 Ft
Beszerezhetőség
Megrendelésre a kiadó utánnyomja a könyvet. Rendelhető, de a szokásosnál kicsit lassabban érkezik meg.
Why don't you give exact delivery time?
A beszerzés időigényét az eddigi tapasztalatokra alapozva adjuk meg. Azért becsült, mert a terméket külföldről hozzuk be, így a kiadó kiszolgálásának pillanatnyi gyorsaságától is függ. A megadottnál gyorsabb és lassabb szállítás is elképzelhető, de mindent megteszünk, hogy Ön a lehető leghamarabb jusson hozzá a termékhez.
A termék adatai:
- Kiadás sorszáma és címe :Volume 2
- Kiadó OUP Oxford
- Megjelenés dátuma 1993. május 13.
- ISBN 9780198557333
- Kötéstípus Keménykötés
- Terjedelem434 oldal
- Méret 240x160x29 mm
- Súly 816 g
- Nyelv angol
- Illusztrációk numerous halftones, line drawings and tables 0
Kategóriák
Hosszú leírás:
Volume 2 deals with those aspects when there is a stronger correlation of the diffraction phenomena with the electron microscope imaging.
'These specialist books will find their way into the libraries of pracitioners, who will use them as a source of references as examples, and as a means on initiating students into the wealth of detail that can be obtained from electron diffraction.'
Professor J.A. Venables, University of Sussex, Contemporary Physics, 1993, volume 34, number 3
Tartalomjegyzék:
S. Amelinckx & D. van Dyck: EM imaging and diffraction contrast; K. Yagi: Rheed and REM; J. Gj?nnes: Disorder and defect scattering; S. Amelinckx & D. van Dyck: Electron diffraction effects due to modulated structures; M. Carr & C. Lyman: Identifications of unknowns; Index.
Több
