Characterisation of Radiation Damage by Transmission Electron Microscopy
Sorozatcím: Series in Microscopy in Materials Science; 0;
-
20% KEDVEZMÉNY?
- A kedvezmény csak az 'Értesítés a kedvenc témákról' hírlevelünk címzettjeinek rendeléseire érvényes.
- Kiadói listaár GBP 240.00
-
121 464 Ft (115 680 Ft + 5% áfa)
Az ár azért becsült, mert a rendelés pillanatában nem lehet pontosan tudni, hogy a beérkezéskor milyen lesz a forint árfolyama az adott termék eredeti devizájához képest. Ha a forint romlana, kissé többet, ha javulna, kissé kevesebbet kell majd fizetnie.
- Kedvezmény(ek) 20% (cc. 24 293 Ft off)
- Kedvezményes ár 97 171 Ft (92 544 Ft + 5% áfa)
Iratkozzon fel most és részesüljön kedvezőbb árainkból!
Feliratkozom
121 464 Ft
Beszerezhetőség
Becsült beszerzési idő: A Prosperónál jelenleg nincsen raktáron, de a kiadónál igen. Beszerzés kb. 3-5 hét..
A Prosperónál jelenleg nincsen raktáron.
Why don't you give exact delivery time?
A beszerzés időigényét az eddigi tapasztalatokra alapozva adjuk meg. Azért becsült, mert a terméket külföldről hozzuk be, így a kiadó kiszolgálásának pillanatnyi gyorsaságától is függ. A megadottnál gyorsabb és lassabb szállítás is elképzelhető, de mindent megteszünk, hogy Ön a lehető leghamarabb jusson hozzá a termékhez.
A termék adatai:
- Kiadás sorszáma 1
- Kiadó CRC Press
- Megjelenés dátuma 2000. november 21.
- ISBN 9780750307482
- Kötéstípus Keménykötés
- Terjedelem234 oldal
- Méret 234x156 mm
- Súly 476 g
- Nyelv angol 0
Kategóriák
Rövid leírás:
This book details the electron microscopy methods used to investigate complex and fine-scale microstructures, such as those produced by fast-particle irradiation of metals or ion implantation of semiconductors. It focuses on the methods used to characterize small point-defect clusters, such as dislocation loops, because the coverage in general microscopy textbooks is limited and omits many of the problems associated with the analysis of these defects. The book also describes in situ, high-resolution, and analytical techniques. Techniques are illustrated with examples, providing a solid overview of the contribution of TEM to radiation damage mechanisms.
TöbbHosszú leírás:
Characterization of Radiation Damage by Transmission Electron Microscopy details the electron microscopy methods used to investigate complex and fine-scale microstructures, such as those produced by fast-particle irradiation of metals or ion implantation of semiconductors. The book focuses on the methods used to characterize small point-defect clusters, such as dislocation loops, because the coverage in general microscopy textbooks is limited and omits many of the problems associated with the analysis of these defects. The book also describes in situ, high-resolution, and analytical techniques. Techniques are illustrated with examples, providing a solid overview of the contribution of TEM to radiation damage mechanisms. The book is most useful to researchers in, or entering into, the field of defect analysis in materials.
TöbbTartalomjegyzék:
The role of transmission electron microscopy in characterising radiation damage. An introduction to the available contrast mechanisms and experimental techniques. Analysis of small centres of strain: the determination of loop morphologies. Analysis of small centres of strain: determination of the vacancy or interstitial natural of small clusters. Analysis of small centres of strain: counting and sizing small clusters. Characterisation of voids and bubbles. Techniques for imaging displacement cascades. High-resolution imaging of radiation damage. In-situ irradiation experiments. Applications of analytical techniques. Radiation damage in amorphous glass. Appendix: The Thompson tetrahdron. References. Index.
Több
