• Kapcsolat

  • Hírlevél

  • Rólunk

  • Szállítási lehetőségek

  • Hírek

  • 0
    Advances in Optics of Charged Particle Analyzers: Part 2

    Advances in Optics of Charged Particle Analyzers: Part 2 by Hawkes, Peter W.; H?tch, Martin;

    Sorozatcím: Advances in Imaging and Electron Physics; 233;

      • 10% KEDVEZMÉNY?

      • A kedvezmény csak az 'Értesítés a kedvenc témákról' hírlevelünk címzettjeinek rendeléseire érvényes.
      • Kiadói listaár EUR 175.00
      • Az ár azért becsült, mert a rendelés pillanatában nem lehet pontosan tudni, hogy a beérkezéskor milyen lesz a forint árfolyama az adott termék eredeti devizájához képest. Ha a forint romlana, kissé többet, ha javulna, kissé kevesebbet kell majd fizetnie.

        74 235 Ft (70 700 Ft + 5% áfa)
      • Kedvezmény(ek) 10% (cc. 7 424 Ft off)
      • Discounted price 66 812 Ft (63 630 Ft + 5% áfa)

    Beszerezhetőség

    Még nem jelent meg, de rendelhető. A megjelenéstől számított néhány héten belül megérkezik.

    Why don't you give exact delivery time?

    A beszerzés időigényét az eddigi tapasztalatokra alapozva adjuk meg. Azért becsült, mert a terméket külföldről hozzuk be, így a kiadó kiszolgálásának pillanatnyi gyorsaságától is függ. A megadottnál gyorsabb és lassabb szállítás is elképzelhető, de mindent megteszünk, hogy Ön a lehető leghamarabb jusson hozzá a termékhez.

    Hosszú leírás:

    Advances in Optics of Charged Particle Analyzers: Part Two, Volume 233 merges two long-running serials, Advances in Electronics and Electron Physics and Advances in Optical and Electron Microscopy. The release in the series features articles on Electrostatic Energy, Mass Analyzers With Combined Electrostatic and Magnetic Fields, Mass Analyzers based on Fourier Transform, Principles of Time-of-Flight Mass Analyzers, Multi-Pass Time-of-Flight Mass Analyzers, and Radiofrequency Mass Analyzers.


    • Provides the authority and expertise of leading contributors from an international board of authors
    • Presents the latest release in the Advances in Imaging and Electron Physics series
    • Features articles on Electrostatic Energy, Mass Analyzers With Combined Electrostatic and Magnetic Fields, and more

    Több

    Tartalomjegyzék:

    Prefece
    1. Electrostatic Energy Analyzers
    Mikhail Yavor
    2. Mass Analyzers With Combined Electrostatic and Magnetic Fields
    Mikhail Yavor
    3. Mass Analyzers based on Fourier Transform
    Mikhail Yavor
    4. Principles of Time-of-Flight Mass Analyzers
    Mikhail Yavor
    5. Multi-Pass Time-of-Flight Mass Analyzers
    Mikhail Yavor
    6. Radiofrequency Mass Analyzers
    Mikhail Yavor

    Több