• Kapcsolat

  • Hírlevél

  • Rólunk

  • Szállítási lehetőségek

  • Prospero könyvpiaci podcast

  • Hírek

  • Applied Advanced Optical Metrology Solutions

    Applied Advanced Optical Metrology Solutions by Novak, Erik; Trolinger, James;

    Sorozatcím: Proceedings of SPIE;

      • 8% KEDVEZMÉNY?

      • A kedvezmény csak az 'Értesítés a kedvenc témákról' hírlevelünk címzettjeinek rendeléseire érvényes.
      • Kiadói listaár EUR 79.00
      • Az ár azért becsült, mert a rendelés pillanatában nem lehet pontosan tudni, hogy a beérkezéskor milyen lesz a forint árfolyama az adott termék eredeti devizájához képest. Ha a forint romlana, kissé többet, ha javulna, kissé kevesebbet kell majd fizetnie.

        32 765 Ft (31 205 Ft + 5% áfa)
      • Kedvezmény(ek) 8% (cc. 2 621 Ft off)
      • Kedvezményes ár 30 144 Ft (28 709 Ft + 5% áfa)

    32 765 Ft

    Beszerezhetőség

    Bizonytalan a beszerezhetőség. Érdemes még egyszer keresni szerzővel és címmel. Ha nem talál másik, kapható kiadást, forduljon ügyfélszolgálatunkhoz!

    Why don't you give exact delivery time?

    A beszerzés időigényét az eddigi tapasztalatokra alapozva adjuk meg. Azért becsült, mert a terméket külföldről hozzuk be, így a kiadó kiszolgálásának pillanatnyi gyorsaságától is függ. A megadottnál gyorsabb és lassabb szállítás is elképzelhető, de mindent megteszünk, hogy Ön a lehető leghamarabb jusson hozzá a termékhez.

    A termék adatai:

    • Kiadó SPIE
    • Megjelenés dátuma 2015. október 30.
    • Kötetek száma Paperback

    • ISBN 9781628417425
    • Kötéstípus Puhakötés
    • Terjedelem277 oldal
    • Méret 279x216 mm
    • Nyelv angol
    • 0

    Kategóriák

    Rövid leírás:

    Proceedings of SPIE offer access to the latest innovations in research and technology and are among the most cited references in patent literature.

    Több

    Hosszú leírás:

    Proceedings of SPIE present the original research papers presented at SPIE conferences and other high-quality conferences in the broad-ranging fields of optics and photonics. These books provide prompt access to the latest innovations in research and technology in their respective fields. Proceedings of SPIE are among the most cited references in patent literature.

    Több